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       近日，鄭州大學單崇新團隊以“Highly sensitive diamond X-ray detector array for high-temperature applications”為題在Chip上發表研究論文，利用金剛石實現了可在高溫環境下工作的高靈敏度X射線探測陣列。

       X射線以其短波長和高能量，在醫學成像、工業探傷、晶體結構分析以及安全篩查等多個領域得到了廣泛應用。然而，這些應用的效果高度依賴于高性能和穩定的X射線探測器。目前，由于材料和設備檢測機制的限制，開發兼具高靈敏度、快速響應和穩定性的探測器仍然面臨挑戰。本文研究中，作者利用單晶金剛石構建了一個10×10 X射線探測器陣列，并通過不對稱夾層電極結構提升了探測器的靈敏度。該金剛石X射線探測器陣列表現出了卓越的探測性能和高溫穩定性。

       制造過程包括幾個步驟：首先，通過光刻法和磁控濺射法在金剛石正面沉積了10×10個銀電極，每個電極的尺寸為850 mm×850 mm，電極間距為120 mm。接著，在金剛石背面沉積了Ti/Au電極。為了減少相鄰像素之間的串擾，采用激光切割在銀電極之間切割出溝槽。這些溝槽有效抑制了載流子的橫向傳輸，從而減少了像素間的串擾，提升了探測器的光電性能和圖像清晰度。

       上圖展示了金剛石X射線探測器在不同條件下的性能。結果表明在50 V偏置電壓下，靈敏度響應為14.3 mC Gy-1 cm-2。40 V偏置下，信噪比等于3時的檢測閾值為4.9 nGy s-1。在27~450℃溫度范圍內光電流隨著溫度升高而增加。在62.83 nGy s-1 X射線劑量率下光電流和暗電流均表現出良好的重復性。

       總結，本文開發了一種10×10單晶金剛石X射線探測器陣列。 通過采用不對稱電極結構和激光切割加工的溝槽，顯著提升了探測器的性能。 該探測器在50 V偏置下展現出18312的光暗電流比、14.3 mC Gy-1 cm-2的靈敏度和4.9 nGy s -1的檢測極限，達到當前金剛石X射線探測器中的最佳水平。 探測器還具有優異的均勻性和穩定性，能夠在高達450 ℃的高溫下有效探測X射線，拓展了其在惡劣環境下的應用潛力。